梅特勒托利多-分析天平技術(shù)參數(shù)：

型號(hào)	zui大稱量值 [g]	可讀性 [mg]	zui小稱量值（USP），典型值[mg]	重復(fù)	線性誤差（典型值）	秤盤(pán)尺寸 寬度（mm）	尺寸深	秤盤(pán)尺寸 高度（mm）
XSE 105DU	41.0，120.0	0.01，0.1	20.0	0.01	0.2	263.0	482.0	322.0
XSE 205DU	81.0，220.0	0.01，0.1	20.0	0.01	0.2	263.0	482.0	322.0
XSE 104	120.0	0.1	80.0	0.04	0.2	263.0	482.0	322.0
XSE 204	220.0	0.1	80.0	0.04	0.2	263.0	482.0	322.0

 

梅特勒托利多-分析天平性能特點(diǎn)：

提供以下智能稱量功能：

• 包括狀態(tài)指示燈在內(nèi)的新型彩色顯示屏，具有警告功能

• 性能更出色的網(wǎng)格秤盤(pán)和*的易巧稱量組件• 新的靜電消除技術(shù)

• TestManager™ 用于簡(jiǎn)單的日常測(cè)試

• LabX® 軟件用于在屏幕上提供定制的工作流程指南

 

天平就緒

嵌入終端的狀態(tài)指示燈使用顏色直觀地顯示天平的狀態(tài)：綠色表示準(zhǔn)備就緒，黃色表示警告，紅色表示錯(cuò)誤。 狀態(tài)指示燈清晰地顯示天平是否已準(zhǔn)備好開(kāi)始稱量任務(wù)。

 

可靠的結(jié)果

超越系列分析天平將獲得的梅特勒-托利多稱量技術(shù)與數(shù)十年的稱量專業(yè)知識(shí)相結(jié)合，確保您快速、可靠地獲得*的稱量結(jié)果

 

過(guò)程得到控制

梅特勒-托利多的 LabX® 可提升實(shí)驗(yàn)室平臺(tái)的管理性能。 LabX 在提供關(guān)于天平觸摸屏的靈活的 SOP 用戶指南方面*。 自動(dòng)化數(shù)據(jù)處理、計(jì)算和報(bào)告生成等功能讓您不用再手寫(xiě)輸入。 抄寫(xiě)錯(cuò)誤得以消除，確保了*的可追溯能力。 LabX 輕松地滿足zui高的過(guò)程安全要求，并幫助您建立無(wú)紙化實(shí)驗(yàn)室。

 

容易清洗

憑借*的網(wǎng)格秤盤(pán)和可在數(shù)秒鐘內(nèi)拆卸的防風(fēng)罩，始終確保稱量區(qū)域清潔、安全。

 

基于RFID的操作 移液器

現(xiàn)代化移液器有內(nèi)置的 RFID 芯片，可存儲(chǔ)移液器 ID、移液器量程、zui后校準(zhǔn)日期和下一校準(zhǔn)日期等相關(guān)信息。 新的集成 RFID 閱讀器在數(shù)秒鐘內(nèi)即可檢查該信息。 僅需掃描一下，集成的 RFID 閱讀器即可安全、快速地收集并在終端上顯示您的移液器 RFID 芯片上存儲(chǔ)的所有信息 。

 

基于RFID的操作 滴定

在天平上安全地輸入滴定樣品信息，并將所有信息輕松地通過(guò)滴定燒杯和 SmartSample RFID 標(biāo)簽傳輸至滴定儀。
 

如果你對(duì)XSE系列梅特勒托利多-分析天平感興趣，想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息，填寫(xiě)下表直接與廠家聯(lián)系：