- 產(chǎn)品描述
梅特勒托利多-分析天平技術(shù)參數(shù):
型號 | 量程[g] | 可讀性[mg] | zui小稱量值(USP),典型值[mg] | 重復(fù)性[mg] | 線性誤差 |
XPE 105 | 120.0 | 0.01 | 14.0 | 0.015 | 0.1 |
XPE 204 | 220.0 | 0.1 | 82.0 | 0.05 | 0.2 |
XPE 205DR | 120.0 | 0.01,0.1 | 14.0 | 0.015 | 0.15 |
XPE 105DR | 41.0,220.0 | 0.01mg/0.1mg | 14.0 | 0.015 | 0.15 |
XPE 304 | 320 | 0.1 mg | 82.0 | 0.08 | 0.4 |
梅特勒托利多-分析天平性能特點:
*性能
StaticDetect™ 靜電檢測和靜電消除技術(shù),加上先進的 SmartGrid 網(wǎng)格秤盤為您提供具有重復(fù)性的可靠結(jié)果。 創(chuàng)新型 StatusLight™ 分析天平就緒指示燈以及利用 TestManager™ 測試管理功能輕松進行日常測試可提高您的質(zhì)量管理且易于合規(guī)。
輕松滿足法規(guī)
StatusLight 狀態(tài)指示燈使用顏色直觀地顯示天平的狀態(tài):分析天平綠色表示準(zhǔn)備就緒,分析天平黃色表示警告,分析天平紅色表示錯誤。 StatusLight 狀態(tài)指示燈清晰地顯示天平是否已準(zhǔn)備好開始稱量任務(wù)。
狀態(tài)指示燈
分析天平狀態(tài)指示燈清晰地顯示分析天平是否已準(zhǔn)備好開始稱量任務(wù)。分析天平綠色表示天平準(zhǔn)備運行,黃色表示天平應(yīng)通過 TestManager 連接至日常測試,紅色表示應(yīng)對天平失去平衡等錯誤立即采取糾正措施。
分析天平觸摸屏,可在 Test-Manager™ 嵌入式軟件中進行 SOP 測試。分析天平無論何時進行測試,分析天平都會在屏幕上顯示消息,您只需遵循分步式指導(dǎo)信息操作即可。
zui大限度地減少靜電荷
我們的 StaticDetect 靜電檢測技術(shù)可檢測樣品或其容器上的靜電荷。 如果稱量錯誤超過用戶定義的限值,則出現(xiàn)警告;然后可以采取防靜電措施。 為了獲得過程安全性,可鎖定稱量結(jié)果的發(fā)布。
用戶引導(dǎo)過程管理
梅特勒-托利多的 LabX® 實驗室軟件可在分析天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。 分析天平利用自動數(shù)據(jù)處理、計算和報告,具有 LabX 軟件的分析天平可以輕松實現(xiàn)過程安全性和可追溯性要求,并支持您實現(xiàn)無紙化實驗室。
結(jié)果可靠
超越系列分析天平將獲得的梅特勒-托利多稱量技術(shù)與數(shù)十年的稱量專業(yè)知識相結(jié)合,確保您快速、可靠地獲得*的稱量結(jié)果!
無需接觸天平的操作
超越系列分析天平采用人體工程學(xué)設(shè)計,旨在盡量使您的生活變得輕松。 SmartSens™ 紅外感應(yīng)器可使您揮一下手即可進行操作,使稱量任務(wù)更加輕松,避免交叉污染問題(例如:打開/關(guān)閉防風(fēng)罩門)。
易于清潔
分析天平憑借*的網(wǎng)格秤盤和可在數(shù)秒鐘內(nèi)拆卸的防風(fēng)罩,分析天平始終確保稱量區(qū)域清潔、分析天平安全。
基于RFID的操作—滴定儀
現(xiàn)代化移液器有內(nèi)置的 RFID 芯片,可存儲大量信息:移液器 ID、移液器容量、zui后校準(zhǔn)日期和下一校準(zhǔn)日期等等。 利用新的集成 RFID 閱讀器,您可以在幾秒鐘內(nèi)進行檢查,并在天平終端上查看報告全文 — 快速、無誤。
基于RFID的操作—滴定
在分析天平上安全地輸入滴定樣品信息,并將其輕松地通過滴定燒杯和 SmartSample RFID 標(biāo)簽傳輸至滴定儀。
每個數(shù)字都重要
在稱量催化劑、酶或高價值電子元件時,分析天平可讀性是提高準(zhǔn)確度的一個重要因素。了解更多有關(guān)梅特勒-托利多手動質(zhì)量比較器如何提高工業(yè)應(yīng)用zui高精確度的信息。
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